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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › Analog/RF IC 设计 › Analog/RF IC 资料共享 › 半导体器件的失效机理和模型-整理版本
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楼主: flamingo123

[资料] 半导体器件的失效机理和模型-整理版本

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发表于 2025-1-26 15:17:06 | 显示全部楼层
感谢分享
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cdting
发表于 2025-1-27 00:11:32 | 显示全部楼层
Thanks!!!
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 楼主| 发表于 2025-3-21 09:51:36 | 显示全部楼层
分享两篇简易说明

【专题】芯片HTOL寿命估算.pdf

1000.26 KB, 下载次数: 1 , 下载积分: 资产 -2 信元, 下载支出 2 信元

IC设计中的四种常见失效机理：EM, TDDB, NBTIPBTI, HCI.pdf

1.65 MB, 下载次数: 1 , 下载积分: 资产 -2 信元, 下载支出 2 信元
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发表于 2025-5-21 14:09:20 | 显示全部楼层
谢谢分享
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jerwei
发表于 2025-5-23 20:21:26 | 显示全部楼层
thanks!
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cdting
发表于 2025-5-24 00:45:17 | 显示全部楼层
Thanks!!!
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yyxl
发表于 2025-6-22 22:34:50 | 显示全部楼层
XIWANGYOUYONG
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wlwjj
发表于 2025-7-8 14:28:46 | 显示全部楼层
谢谢分享
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发表于 2025-7-9 11:37:33 | 显示全部楼层
谢谢分享
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发表于 2025-7-16 13:24:58 | 显示全部楼层
牛。好东西。谢谢！
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