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[求助] 关于 SH的下极板采样技术的问题

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发表于 2014-6-10 19:26:31 | 显示全部楼层 |阅读模式

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之前看书看到,SH中使用下极板采样,运放输入端的寄生电容小,提高速度和精度,即“下极板采样技术”但有的文章说(http://hi.baidu.com/jerome_cool/item/a80a09caa5961a18b67a24bd),一种特殊的下极板采样技术,与Vcm相连的开关提前在与vin相连的开关关断,电荷注入仅仅引入offset。

两种方法的原理都理解,但是现在很纳闷,下极板采样技术部就是Vin通过开关与MOS cap的下极板相连吗? 上面说的非交叠时钟的开关关断为什么也叫下极板采样技术呢?

难道这种抑制电荷注入的技术只能在下极板采样结构用?

CMOS开关为什么作为下极板开关的时候,匹配性较差?


跪求大家的指点
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