请问相关于可靠度实验的问题

simondood · 发表于 2005-2-16 09:35:18

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由于工作上需要以电压加速完成实验，但由于听说Analog在gate oxide的地方通常电压会被限住，请教高手帮忙？

zjyuestc · 发表于 2007-4-11 11:18:19

看一看。

飞雪 · 发表于 2007-4-11 11:51:13

加速寿命试验，需要先了解weibull分布的内容，加速寿命试验不仅与栅氧上加的电压有关系，还与栅氧面积有关系，与栅氧厚度等等有关系，比较复杂！

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