在线咨询
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
切换到宽版

EETOP 创芯网论坛 (原名:电子顶级开发网)

手机号码,快捷登录

手机号码,快捷登录

找回密码

  登录   注册  

快捷导航
搜帖子
查看: 2526|回复: 4

[求助] 有关运放开环增益的测量

[复制链接]
发表于 2019-1-17 15:44:30 | 显示全部楼层 |阅读模式

马上注册,结交更多好友,享用更多功能,让你轻松玩转社区。

您需要 登录 才可以下载或查看,没有账号?注册

x
在Allen第二版书中写到部分有关运算放大器的仿真和测量(p250,中文版),我阅读之后不是很理解其中提到的开环特性测量的方法,主要有一下2点疑惑,请各位帮忙解答:1)如果差分增益比较高,这种方法是如何测出开环相应曲线的呢?在低频部分,应该输入幅度多么小的信号才可以测出相应的增益值呢?
2)此时不需要考虑Vos的影响吗?

测试电路图

测试电路图
发表于 2019-1-18 15:17:26 | 显示全部楼层
AC仿真,不需要信号幅度的,已经归一化了。
理想情况,VOS是不存在的。
发表于 2019-1-19 13:47:45 | 显示全部楼层
kankan
 楼主| 发表于 2019-1-20 15:57:24 | 显示全部楼层
回复 2# demon0821
仿真的话,我可以理解。我想知道如果测试芯片的DC增益,如何测试呢?按照这个原理图的方法,可行吗?
发表于 2024-9-23 14:56:02 | 显示全部楼层
楼主,想请教下,相交的点怎么推导是av(0)/RC呢?
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /2 下一条


小黑屋| 手机版| 关于我们| 联系我们| 在线咨询| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2024-12-24 08:35 , Processed in 0.017715 second(s), 8 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表