有关运放开环增益的测量

seuer · 发表于 2019-1-17 15:44:30

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在Allen第二版书中写到部分有关运算放大器的仿真和测量（p250,中文版），我阅读之后不是很理解其中提到的开环特性测量的方法，主要有一下2点疑惑，请各位帮忙解答：1）如果差分增益比较高，这种方法是如何测出开环相应曲线的呢？在低频部分，应该输入幅度多么小的信号才可以测出相应的增益值呢？
2）此时不需要考虑Vos的影响吗？

测试电路图

demon0821 · 发表于 2019-1-18 15:17:26

AC仿真，不需要信号幅度的，已经归一化了。
理想情况，VOS是不存在的。

chenxiaoming · 发表于 2019-1-19 13:47:45

kankan

seuer · 发表于 2019-1-20 15:57:24

回复 2# demon0821
仿真的话，我可以理解。我想知道如果测试芯片的DC增益，如何测试呢？按照这个原理图的方法，可行吗？

sara9233 · 发表于 2024-9-23 14:56:02

楼主，想请教下，相交的点怎么推导是av(0)/RC呢？

[求助] 有关运放开环增益的测量

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