DFT设计讨论

njupt0804 · 发表于 2015-9-15 11:45:32

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芯片设计时，Design for Test应该考虑那些

mikeycchee · 发表于 2015-9-15 11:49:50

进入DFT的条件必须有一定的复杂度避免客户意外进入DFT模式

njupt0804 · 发表于 2015-9-15 11:51:47

有点意思，也就是DFT不能影响正常工作，造成误触发的话可能会造成芯片出错

mikeycchee · 发表于 2015-9-15 11:53:20

有点意思，也就是DFT不能影响正常工作，造成误触发的话可能会造成芯片出错
njupt0804 发表于 2015-9-15 11:51

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exactly. nomally we can pull a pin to -1V by connecting 2 diodes in series.

mikeycchee · 发表于 2015-9-15 11:55:01

exactly. nomally we can pull a pin to -1V by connecting 2 diodes in series.
mikeycchee 发表于 2015-9-15 11:53

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instead of forcing -1V, sinking currently out of the pin is feasible where in certain case, it's more stable especially data collection at low temperature.

alienwarexie · 发表于 2015-9-15 20:10:16

DMF可测试性

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