DFT设计讨论

njupt0804 · 发表于 2015-9-15 11:45:32

马上注册，结交更多好友，享用更多功能，让你轻松玩转社区。

您需要登录才可以下载或查看，没有账号？注册

x

芯片设计时，Design for Test应该考虑那些

mikeycchee · 发表于 2015-9-15 11:49:50

进入DFT的条件必须有一定的复杂度避免客户意外进入DFT模式

njupt0804 · 发表于 2015-9-15 11:51:47

有点意思，也就是DFT不能影响正常工作，造成误触发的话可能会造成芯片出错

mikeycchee · 发表于 2015-9-15 11:53:20

有点意思，也就是DFT不能影响正常工作，造成误触发的话可能会造成芯片出错
njupt0804 发表于 2015-9-15 11:51

登录/注册后可看大图

exactly. nomally we can pull a pin to -1V by connecting 2 diodes in series.

mikeycchee · 发表于 2015-9-15 11:55:01

exactly. nomally we can pull a pin to -1V by connecting 2 diodes in series.
mikeycchee 发表于 2015-9-15 11:53

登录/注册后可看大图

instead of forcing -1V, sinking currently out of the pin is feasible where in certain case, it's more stable especially data collection at low temperature.

alienwarexie · 发表于 2015-9-15 20:10:16

DMF可测试性

[讨论] DFT设计讨论

马上注册，结交更多好友，享用更多功能，让你轻松玩转社区。

相关帖子

浏览过的版块

站长推荐 /2