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楼主: nashmvp

[求助] 芯片加脉冲群干扰或接触放电后的latch up问题

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发表于 2013-4-28 12:12:56 | 显示全部楼层
回复 10# nashmvp

对啊,电源pad之间不是直接power对到ground的clamper吗?ESD测试总有可能是power pin对ground pin打的。
 楼主| 发表于 2013-4-28 17:01:27 | 显示全部楼层
回复 11# allen_tang


    噢。这样。
这个产品后来发现有时候脉冲群打上去并没有失效,但是用金属物品或者示波器表笔碰一个引脚就会出现问题,那是不是很有可能是这个引脚出现latch up了?
发表于 2013-4-28 17:09:09 | 显示全部楼层




    电源PAD,芯片四周都会用,一般还不少
发表于 2013-5-2 10:56:17 | 显示全部楼层
回复 12# nashmvp


    有金属接触就会出问题,这些pin会不会有CDM的问题?
 楼主| 发表于 2013-5-2 13:12:07 | 显示全部楼层
回复 14# allen_tang


    CDM是什么问题?
发表于 2013-5-2 13:49:33 | 显示全部楼层
回复 15# nashmvp


    charged-device model,电荷从芯片内部经过pin放电。 现在找到原因了吗?
 楼主| 发表于 2013-5-2 17:47:36 | 显示全部楼层
回复 16# allen_tang

没有。故意加大脉冲群干扰让几颗芯片彻底失效,然后和可恢复的几颗芯片一起解剖对比,看到彻底失效的芯片内部多处烧伤,而没彻底失效的内部没什么异常现象。
发表于 2013-6-24 17:17:56 | 显示全部楼层
謝謝你喔喔喔喔
发表于 2013-10-23 17:16:22 | 显示全部楼层
发生latch up,切hold电压如此之低
发表于 2014-9-28 17:10:21 | 显示全部楼层
电源上的ESD保护结构如果用SCR的话,一定要是HIGH-HOLDING-VOLTAGE SCR!
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