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[原创] Incircuit Design for Testability Guidelines

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发表于 2011-4-16 00:53:05 | 显示全部楼层 |阅读模式

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DFT Design For Testability (2).pdf (139.33 KB, 下载次数: 322 )
这是一篇介绍Incircuit DFT技术的英文综述文档,对刚做DFT的工程师或者想做DFT的朋友有一定的指导意义:因为没有目录,只能让大家看看摘要啦(因为我个人是做DFT的,有资源会和大家继续分享):

The following set of guidelines contains excerpts from Teradyne’s formal Incircuit Design for Testability guidelines. These guidelines were developed around the Manufacturing, Test, and PC layout processes and systems that Teradyne utilizes and


may not be accurate for all industry applications。
发表于 2011-4-16 10:31:20 | 显示全部楼层
good reference
发表于 2011-4-16 12:22:03 | 显示全部楼层
thanks a lot
 楼主| 发表于 2011-4-16 19:09:51 | 显示全部楼层
回复 3# hellomehelloyou


    It's my pleasure!
发表于 2011-4-17 21:01:43 | 显示全部楼层
kankan
发表于 2011-7-2 20:18:39 | 显示全部楼层
thanks ...
发表于 2011-7-26 19:08:29 | 显示全部楼层
回复 1# mapledove2007


    谢谢分享!!!
发表于 2012-5-16 16:08:44 | 显示全部楼层
xialeliangbian
发表于 2012-6-6 16:47:15 | 显示全部楼层
刚学DFT,来学习饿
发表于 2012-7-26 11:23:48 | 显示全部楼层
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