在线咨询
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
切换到宽版

EETOP 创芯网论坛 (原名:电子顶级开发网)

手机号码,快捷登录

手机号码,快捷登录

找回密码

  登录   注册  

快捷导航
搜帖子
查看: 9065|回复: 31

[原创] Incircuit Design for Testability Guidelines

[复制链接]
发表于 2011-4-16 00:53:05 | 显示全部楼层 |阅读模式

马上注册,结交更多好友,享用更多功能,让你轻松玩转社区。

您需要 登录 才可以下载或查看,没有账号?注册

x
DFT Design For Testability (2).pdf (139.33 KB, 下载次数: 322 )
这是一篇介绍Incircuit DFT技术的英文综述文档,对刚做DFT的工程师或者想做DFT的朋友有一定的指导意义:因为没有目录,只能让大家看看摘要啦(因为我个人是做DFT的,有资源会和大家继续分享):

The following set of guidelines contains excerpts from Teradyne’s formal Incircuit Design for Testability guidelines. These guidelines were developed around the Manufacturing, Test, and PC layout processes and systems that Teradyne utilizes and


may not be accurate for all industry applications。
发表于 2011-4-16 10:31:20 | 显示全部楼层
good reference
发表于 2011-4-16 12:22:03 | 显示全部楼层
thanks a lot
 楼主| 发表于 2011-4-16 19:09:51 | 显示全部楼层
回复 3# hellomehelloyou


    It's my pleasure!
发表于 2011-4-17 21:01:43 | 显示全部楼层
kankan
发表于 2011-7-2 20:18:39 | 显示全部楼层
thanks ...
发表于 2011-7-26 19:08:29 | 显示全部楼层
回复 1# mapledove2007


    谢谢分享!!!
发表于 2012-5-16 16:08:44 | 显示全部楼层
xialeliangbian
发表于 2012-6-6 16:47:15 | 显示全部楼层
刚学DFT,来学习饿
发表于 2012-7-26 11:23:48 | 显示全部楼层
下载看看
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /2 下一条


小黑屋| 手机版| 关于我们| 联系我们| 在线咨询| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2024-12-24 04:26 , Processed in 0.029163 second(s), 8 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表