请问谁知道可测试性设计中扫描链结构

erer313 · 发表于 2010-8-30 13:19:05

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扫描过程中的结构是根据什么来确定，菜鸟求教谢谢

erer313 · 发表于 2010-8-30 13:27:23

扫描测试过程

eric_1024 · 发表于 2010-8-30 14:40:53

不是很明白你的问题，可测性设计中扫描链结构是将芯片中的扫描触发器连接起来形成的，在此过程中，常见的有两种扫描链模式：一、全扫描模式，芯片中的所有的触发器都设计成扫描触发器，在测试时，所有触发器都参与到测试中形成全扫描链结构；二、部分扫描模式，芯片中只有部分触发器设计成扫描触发器，并参与测试；

erer313 · 发表于 2010-8-30 15:54:05

3# eric_1024 谢谢，我的意思是它是怎样确定扫描结构的，比如有扫描链结构，扫描树结构等，那么我如果要改变这种结构，可以通过怎样一种方式实现

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