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[原创] 请问谁知道可测试性设计中扫描链结构

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发表于 2010-8-30 13:19:05 | 显示全部楼层 |阅读模式

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扫描过程中的结构是根据什么来确定,菜鸟求教 谢谢
 楼主| 发表于 2010-8-30 13:27:23 | 显示全部楼层
扫描测试过程
发表于 2010-8-30 14:40:53 | 显示全部楼层
不是很明白你的问题,可测性设计中扫描链结构是将芯片中的扫描触发器连接起来形成的,在此过程中,常见的有两种扫描链模式:一、全扫描模式,芯片中的所有的触发器都设计成扫描触发器,在测试时,所有触发器都参与到测试中形成全扫描链结构;二、部分扫描模式,芯片中只有部分触发器设计成扫描触发器,并参与测试;
 楼主| 发表于 2010-8-30 15:54:05 | 显示全部楼层
3# eric_1024 谢谢,我的意思是它是怎样确定扫描结构的,比如有扫描链结构,扫描树结构等,那么我如果要改变这种结构,可以通过怎样一种方式实现
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