无运放Bandgap稳定性分析

yinyt

                               
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1、这种常见的无运放BJT稳定性如何分析？仿真图中的反馈断开点为什么设置在v1和v2？
2、M1和M2作为电流源负载时，M1作为二极管连接和M2作为二极管连接有什么区别？如何影响稳定性？
3、查不到相关的论文，有资料的话想参考一下。

mmkyy

图中有几处错误接法，先忽略PMOS的源极接错了。Q1和Q2的基极应该都要接到V1点。
问题1：分析它的稳定性的方法和常规反馈环路分析一致，都是计算环路增益，包括增益的大小和相位来判断稳定性。环路中任意点都可以断开（断开交流通路，保持直流通路，否则不能建立直流工作点，还要注意加载效应），因为环路增益是反馈系统的固有属性，可以想象为它的特征方程，与断开点无关。断开前先要识别信号的流到方向，断开后向信号输入方向注入交流信号，再计算另外一端的返回信号，得到环路增益。所以，不一定非要在V1和V2处断开。在M2的栅极断开可能更好（看向M2的栅极，是一个高阻节点，可以忽略加载效应），向M2的栅极注入测试交流信号，计算M1的栅极电压变化，得到环路增益。
问题2：这是个好问题，答案是，M1作为二极管连接，环路是负反馈；反之是增反馈，up主可以尝试计算两种接法的环路增益。其中关键点是一个在Q1和Q2的基极上的交流信号，它们生成的集电极电流是不同的，这不是电流镜复制电流。
问题3：不知道有没有什么论文可以参考。不过它就是一个负反馈系统，可能从负反馈的本质上来思考才更加直接简单