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楼主: kanjie

[求助] 关于采样开关的线性度问题!!!

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 楼主| 发表于 2025-9-10 09:23:19 | 显示全部楼层


   
chungming 发表于 2025-9-10 01:22
may be due to charge-injection


感谢回答
一开始我有想过是这个原因,但是通过对比发现,同等条件下,栅压自举的线性度高于传输门,而传输门的沟道电荷注入是一定小于栅压自举的,说明导通电阻对线性度的影响占大头。
那么,对于传输门来说,增大W,导通电阻是减小的,沟道电荷注入是增加的,此时又变成了沟道电荷注入的影响占大头,这就和上面的结论矛盾了,不知道我这么考虑是否合理呢?

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发表于 2025-9-10 17:58:07 来自手机 | 显示全部楼层


   
kanjie 发表于 2025-9-10 09:20
感谢回答
一开始我有想过是这个原因,但是通过对比发现,同等条件下,栅压自举的线性度高于传输门,而传输 ...


沟道电荷和栅源电压线性相关,栅压自举开关的沟道电荷,所以电荷注入引入的误差是恒定的,和输入无关,类似于失调误差,cmos引入的是非线性误差
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 楼主| 发表于 2025-9-10 20:06:04 | 显示全部楼层


   
把猪拿过雷雷 发表于 2025-9-10 17:58
沟道电荷和栅源电压线性相关,栅压自举开关的沟道电荷,所以电荷注入引入的误差是恒定的,和输入无关,类 ...


噢对!栅压自举的电荷注入是恒定的。
再请教下,对于cmos或单个nmos管来说,增大W,导通电阻是减小的,沟道电荷注入是增加的,ENOB是降低的,是不是就可以说明电荷注入对线性度的影响大于导通电阻?


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发表于 2025-9-10 22:43:35 来自手机 | 显示全部楼层


   
kanjie 发表于 2025-9-10 20:06
噢对!栅压自举的电荷注入是恒定的。
再请教下,对于cmos或单个nmos管来说,增大W,导通电阻是减小的,沟 ...


cmos开关线性度不好是主要因为导通电阻随输入变化,有限导通电阻应该是主要是驱动能力或者是建立误差的问题吧,不过有限导通电阻确实也是非线性的问题,后面那个说法感觉没问题
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 楼主| 发表于 2025-9-10 22:51:35 | 显示全部楼层


   
把猪拿过雷雷 发表于 2025-9-10 22:43
cmos开关线性度不好是主要因为导通电阻随输入变化,有限导通电阻应该是主要是驱动能力或者是建立误差的问 ...


所以,这里是不是存在速度和线性度之间的折中关系呢?(想要速度,导通电阻就得小,W就得大,电荷注入也就大了,线性度就下降了)
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 楼主| 发表于 2025-9-11 09:49:35 | 显示全部楼层
补充:更奇怪的是,同尺寸单个nmos和传输门相比,跑出来的ENOB居然是nmos高,这是为啥啊?  (输入摆幅控制在nmos以内,并且传输门的np管比例是ok的,有马鞍曲线)
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 楼主| 发表于 2025-9-11 09:50:47 | 显示全部楼层
本帖最后由 kanjie 于 2025-9-11 09:52 编辑

求助求助!!!
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发表于 2025-9-11 14:33:24 | 显示全部楼层
增加采样时间看看?看看是不是电容大了,稳定需要的时间不够了。
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 楼主| 发表于 2025-9-11 15:14:00 | 显示全部楼层


   
迷路大脸猫 发表于 2025-9-11 14:33
增加采样时间看看?看看是不是电容大了,稳定需要的时间不够了。


cmos阻抗小于单个nmos,建立时间更充分,但是ENOB确降低了
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