lacth up 测试

222我 · 发表于 2025-7-9 14:24:47

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在lacth up 测试的时候为什么要对IO PIN触发至高电平和低电平两种情况来进行拉电流和灌电流。这两种情况有什么区别?

hutiao · 发表于 2025-7-9 17:28:05

IO PAD既接PMOS也接NMOS，两种测试应该是分别让PMOS和NMOS寄生二极管导通。具体可以deepseek一下

222我 · 发表于 2025-7-10 14:54:39

hutiao 发表于 2025-7-9 17:28
IO PAD既接PMOS也接NMOS，两种测试应该是分别让PMOS和NMOS寄生二极管导通。具体可以deepseek一下
...

okok谢谢

IC_Spark · 发表于 2025-7-15 14:49:13

LU测试是模拟芯片工作状态下异常情况是否会触发LU，IO high/low会导致芯片不同的工作状态，所以都要进行测试

IC_Spark · 发表于 2025-7-15 14:51:06

IC_Spark 发表于 2025-7-15 14:49
LU测试是模拟芯片工作状态下异常情况是否会触发LU，IO high/low会导致芯片不同的工作状态，所以都要进行测 ...

抱歉，看错了，还以为是input pin偏置

IO 测试诚如二楼所言，拉灌都有可能触发LU

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