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查看: 451|回复: 9

[求助] 射频GSG测试方案下的电路仿真连接问题

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发表于 2025-4-10 16:24:46 | 显示全部楼层 |阅读模式

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最近在做一个K-Ka波段的项目,许多单端电路准备使用RF GSG probe方案进行测试,电路地通过pad和bonding连出,由于并不理解GSG中的G端在实际中是不是接近理想地,在仿真上有不同的选择(如图),请问各位大佬有没有什么经验,怎样仿真更加准确。
(左)认为G端是理想地 (右)认为G端只是片上地的一部分,仅作为参考点,因此将其连接至片上地(bonding地)上。

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发表于 2025-4-10 19:01:23 | 显示全部楼层
顶顶顶
发表于 2025-4-10 19:23:26 | 显示全部楼层
你电路的地通过bonding wire连出来?在PCB上用GSG测试?GSG针头的地当然可以当做理想地,但这个理想地和你芯片内部的地之间要有bonding wire的话你要考虑bonding wire的电感
 楼主| 发表于 2025-4-10 19:42:25 | 显示全部楼层


happylly 发表于 2025-4-10 19:23
你电路的地通过bonding wire连出来?在PCB上用GSG测试?GSG针头的地当然可以当做理想地,但这个理想地和你 ...


感谢回答。

电路的片上地通过pad和bonding wire连出去的,同时测试方案是用GSG扎针测。
片上的探针pad和片上地网络有金属连接。
那请问和测试比较接近的仿真模型是否应该是如下图所示?您的意思是需要考虑扎针pad到片上地的走线寄生对吗

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发表于 2025-4-11 18:03:10 | 显示全部楼层


Maons 发表于 2025-4-10 19:42
感谢回答。

电路的片上地通过pad和bonding wire连出去的,同时测试方案是用GSG扎针测。


理解你的意思了,就是你片上既有GSG的PAD,也有其他的地PAD。我认为你这个模型是合理的,或者你修改一下bonding wire的电感看看,这个电感对你的性能影响有多少。我认为影响不会大。因为你片上其他的地PAD已经和GSG的理想地通过厚金属强连接了
 楼主| 发表于 2025-4-11 22:43:43 | 显示全部楼层


happylly 发表于 2025-4-11 18:03
理解你的意思了,就是你片上既有GSG的PAD,也有其他的地PAD。我认为你这个模型是合理的,或者你修改一下b ...


收到了!感谢您

后续会结合测试结果进一步对比仿真准确度的。
 楼主| 发表于 2025-4-11 22:51:07 | 显示全部楼层
本帖最后由 Maons 于 2025-4-11 22:53 编辑


happylly 发表于 2025-4-11 18:03
理解你的意思了,就是你片上既有GSG的PAD,也有其他的地PAD。我认为你这个模型是合理的,或者你修改一下b ...


那我想再求教一个问题,为什么GSG探针的地可以认为是理想地呢?是理想交流地,还是理想直流地

是因为探针的地,通过忽略不计的寄生连在仪器的地上了吗?这一点我也不太明白。
发表于 2025-4-14 12:04:11 | 显示全部楼层


Maons 发表于 2025-4-11 22:51
那我想再求教一个问题,为什么GSG探针的地可以认为是理想地呢?是理想交流地,还是理想直流地

是因为探针 ...


校准的时候会校到针头,就是保证G和S之间是理想50ohm,那G就是交流理想地,我是这么理解的
 楼主| 发表于 2025-4-14 13:03:58 | 显示全部楼层


happylly 发表于 2025-4-14 12:04
校准的时候会校到针头,就是保证G和S之间是理想50ohm,那G就是交流理想地,我是这么理解的
...


非常感谢!
发表于 2025-4-14 19:41:47 | 显示全部楼层


happylly 发表于 2025-4-14 12:04
校准的时候会校到针头,就是保证G和S之间是理想50ohm,那G就是交流理想地,我是这么理解的
...


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