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查看: 292|回复: 4

[求助] 关于前仿和后仿(提的是no RC)结果不同的问题

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发表于 2025-3-19 16:15:52 | 显示全部楼层 |阅读模式

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仿的是折叠共栅共源加浮山class AB. 发现后仿中ac增益下降了很多,已经影响功能了。对比了仿真网表,只有源漏面积不同。想问下大家,这个会有很重要的影响吗?

把后仿电路中的电流镜电路替换成前仿的电路,ac增益就能恢复(网表显示是源漏面积恢复成前仿一样了)。想问下如何解决这个问题呢?(前仿已经仿了corner加温度,都没发现ac增益如此大幅度的下降)

发表于 2025-3-19 16:32:57 | 显示全部楼层
后仿提的网表是no RC,但是其它的寄生效应是存在的,比如LOD,WPE,失配等因素,会导致前后仿真结果不一致,优化版图应该就可以了
 楼主| 发表于 2025-3-19 16:53:09 | 显示全部楼层


mww12 发表于 2025-3-19 16:32
后仿提的网表是no RC,但是其它的寄生效应是存在的,比如LOD,WPE,失配等因素,会导致前后仿真结果不一致 ...


那想问下前辈,具体应该如何调整呢?直接拉宽源漏区吗?我看两个MOS管并联的时候,器件的源/漏会自动在版图里叠在一起。
发表于 2025-3-19 16:57:39 | 显示全部楼层
把源漏分开试试
发表于 2025-3-25 11:44:22 | 显示全部楼层
源漏区加宽,PMOS的话和阱距离拉宽,或者边缘加dummy,应该都会与改善。
有可能cascode管进线性区了
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