ESD IP 测试

521lkh · 发表于 7 天前

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TLP测试，全称为“Transmission Line Pulse”测试，是一种用于评估半导体器件，尤其是集成电路（IC）和分立器件在瞬态高压脉冲下的静电放电（ESD）耐受能力的测试方法。TLP测试通过在被测器件的引脚上施加高压脉冲，模拟实际使用中可能遇到的静电放电事件，以评估器件的ESD保护设计的有效性。

TLP测试通常在实验室环境中进行，使用专门的TLP测试设备。这些设备可以生成精确控制的高压脉冲，脉冲宽度和幅度可以调节，以模拟不同条件下的ESD事件。通过观察器件在不同脉冲条件下的行为，如电流响应、工作状态变化等，可以评估器件的ESD耐受能力和保护电路的设计效果。

在半导体行业，TLP测试是确保产品可靠性和耐用性的重要手段之一，特别是在消费电子、汽车电子等对ESD敏感的应用领域。随着器件尺寸的缩小和集成度的提高，ESD保护变得越来越重要，因此TLP测试在现代半导体测试中扮演着关键角色。

521lkh · 发表于 7 天前

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qwertyu6140 · 发表于 7 天前

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[原创] ESD IP 测试

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