在线咨询
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
切换到宽版

EETOP 创芯网论坛 (原名:电子顶级开发网)

手机号码,快捷登录

手机号码,快捷登录

找回密码

  登录   注册  

快捷导航
搜帖子
查看: 63|回复: 3

[求助] 求助!abstract抽lef出现无法识别act/diff的问题

[复制链接]
发表于 昨天 22:56 | 显示全部楼层 |阅读模式
100资产
小弟目前在用abstract抽取lef建库。在进行extract步骤时abstract提示如下错误:

WARNINGABS-13029): Cell XOR2_X1: Layers ('act') could not be included in the antenna calculation because their fabrication mask numbers are not specified in the technology database. To include these layers in the antenna calculation, update the technology database and reload the lib.
忽略该错误继续进行提取,将提取出的lef与参考库比对,发现输出pin脚Q缺少ANTENNADIFFAREA字段。小弟怀疑是act层extract时有问题,在signal tab里面特意添加了 contactc、poly 和act层,再次查看抽取出的pin,发现抽取时确实金属层,via层,contact层都可以抽取,唯独缺了act/diff层。

小弟有如下疑惑:
1.该错误该如何修复
2.一个正确抽取天线效应的lef应该包含哪些信息,抽取出的那些数值的计算规则是什么?

 楼主| 发表于 昨天 23:03 | 显示全部楼层
这里附上部分extract时的设置和抽取结果
微信图片_20241118225734.jpg
微信图片_20241118225747.jpg
微信图片_20241118230000.jpg
微信图片_20241118230218.jpg
 楼主| 发表于 昨天 23:09 | 显示全部楼层
这里附上部分layermap内容和.lef内容
微信图片_20241118230612.jpg
微信图片_20241118230723.jpg
发表于 昨天 23:12 | 显示全部楼层
不懂,帮顶顶
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /1 下一条

小黑屋| 手机版| 关于我们| 联系我们| 在线咨询| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2024-11-19 05:27 , Processed in 0.016211 second(s), 6 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表