dft时候有些寄存器串不到链里去，不懂是啥原因，请教一下，感谢

lan123 · 发表于 2024-9-13 17:18:01

马上注册，结交更多好友，享用更多功能，让你轻松玩转社区。

您需要登录才可以下载或查看，没有账号？注册

x

登录/注册后可看大图

ICG用test mode跟scan enable没啥区别，都串不到链里去

登录/注册后可看大图

感谢回答

lan123 · 发表于 2024-9-13 17:38:53

我这个是不是串到链里面去了，指示报一些风险？

kk2009 · 发表于 2024-9-15 03:30:38

ICG的test pin用Test mode和scan mode是有区别的，如果用Test mode，其实ICG的enable产生电路是没有办法测试到，因为test pin用的Test mode，在scan下，一直是1，所以ICG相当于bypass了。但是用scan enable（或者叫shift enable）那么在shift mode下，这个ICG是bypass的，但是当capture mode时，scan mode是等于0的，这个时候ICG的enable是1或者0，就由enable前面的logic决定了，这样相当于capture mode下enable产生电路就能被测试到，当enable为0，后面的ff就不会capture新的值，当为1时，就会capture新的值。

从log上看，是串到chain里。

quanqiutong · 发表于 2024-9-15 10:35:20

只是warning

lan123 · 发表于 2024-9-18 09:44:15

kk2009 发表于 2024-9-15 03:30
ICG的test pin用Test mode和scan mode是有区别的，如果用Test mode，其实ICG的enable产生电路是没有办法测 ...

讲的通透，理解了

[讨论] dft时候有些寄存器串不到链里去，不懂是啥原因，请教一下，感谢

马上注册，结交更多好友，享用更多功能，让你轻松玩转社区。

站长推荐 /2