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查看: 676|回复: 7

[讨论] 功率MOS管开启时输出过冲太大,有什么好的解决办法?

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发表于 2024-8-8 16:02:10 | 显示全部楼层 |阅读模式

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开关调制电路的输出需要驱动1A左右的负载,因此末级的功率PMOS管尺寸较大;5V电源端和地端加上1nH电感模拟键合线影响后,输出由0V切换到5V时,过冲非常大,芯片的VDD供电引脚处,电压甚至超过7.5V;出于对电路中器件的可靠性考虑,希望减小该过冲,不知道各位大佬们有什么好的建议?

 楼主| 发表于 2024-8-8 16:22:22 | 显示全部楼层

过冲的原因在于快速变化的电流通过电感(dv = L *(di/dt))

本人曾尝试两种办法减小末级PMOS管开启时的电流变化:
1)将末级PMOS管的栅极信号下降沿减慢;
2)将末级PMOS管分为若干部分,分段开启(比如分为5部分,通过将各部分PMOS管的栅极信号做相应延时,先开启第1部分PMOS管,然后依次第2部分、第3部分、第4部分,最后第5部分);

由于电感的客观存在,芯片VDD供电端的电压过冲可减小到6V左右(供电5V)

对于第1种办法,相对容易接受;
对于第2种办法,不知道有没有人用过?
有讨论中提到并联PMOS管的动态电流分配引发的发热、可靠性等问题,由于各部分PMOS管的栅极信号延时较小(2ns),如此短暂的时间,先开启的第1部分PMOS管相比于第5部分PMOS管,确实会先承受10ns左右的电流负载;但是同样的,第1部分PMOS管先关断;从动态平均电流来看,5个部分PMOS管承受的动态电流基本相等,不知道这么考虑是否正确。




 楼主| 发表于 2024-8-8 16:24:44 | 显示全部楼层
另外,如果不做任何设计改进,对于5.5V额定工作电压的器件,短暂(<10ns)的电压过冲(7.5V)是否会对器件的长期可靠性有大的影响?
发表于 2024-8-8 17:57:58 | 显示全部楼层
楼主咋解决的?分块驱动?下管软关断?还是降低驱动能力呀?
 楼主| 发表于 2024-8-8 18:14:40 | 显示全部楼层


cl_li 发表于 2024-8-8 17:57
楼主咋解决的?分块驱动?下管软关断?还是降低驱动能力呀?


功率MOS管肯定是分块了,只是软开启的方式有减小各块功率MOS管的前级驱动能力(但仍然尽量保证各块MOS管同时开启)和分块MOS管间隔开启;

个人是用过第1种方式的,只是想讨论一下第2种方式(分块功率MOS管间隔开启)的可行性

另外,想请教一下大佬们,对于器件短暂(小于10ns)超过额定电压的影响是否可以忽略?因为ESD是不是也可以认为是短暂的过冲啊?
发表于 2024-9-14 17:11:26 | 显示全部楼层
第二种方法博主现在有啥研究了嘛,感觉之前好像看过这么做的
发表于 2024-9-19 20:20:29 | 显示全部楼层


libo123 发表于 2024-8-8 18:14
功率MOS管肯定是分块了,只是软开启的方式有减小各块功率MOS管的前级驱动能力(但仍然尽量保证各块MOS管 ...


10ns短暂过压到7.5V,5V device大概率不会损坏,长期来看会影响可靠性和device寿命,不过这也取决于整生命周期内过压的总次数。
发表于 2024-9-20 10:23:27 | 显示全部楼层
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