如何对已有扫描链的电路进行操作

wuenj

我到手的是一个已有扫描链的电路网表，我想对这个电路生成测试模式，查看test coverage，然后插入LBIST，再进行其他操作。
问题：如何编写描述扫描链的dofile
描述：
实际操作的时候卡住了，由于我是得到的电路网表，因此无法使用tsdb，将SETUP转到ANALYSE进行的DRC时会报错，一些S系列的违规已经得到解决，目前还剩下一个疑问：我的扫描链也是移位寄存器，为什么无法识别

                               
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经过查找资料，在tessent atpg gd文件中找到了一些参考，在analyze and insert TP in a post_scan design中，有提到，使用已有扫描链的电路，需要添加两个dofile，原文如下：
a：Load the setup_constraints.dofile, which has all the clock definitions, input constraints, and other parameters affecting the setup of the design in test mode.
b：Read in the scan_chains.do file that describes the scan chains that are already stitched in the design.
setup_constraints.dofile这个dofile我很好理解，后面这个描述扫描链的dofile我不清楚，找了好几天也没有结果，想来请教一下