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发表于 2024-6-1 15:17:38 | 显示全部楼层 |阅读模式
200资产
Semiconductor Device Failure Analysis
作者: Chim
出版社: John Wiley & Sons
ISBN: 9780471492405
Wai Kin Chim is the author of Semiconductor Device and Failure Analysis: Using Photon Emission Microscopy, published by Wiley.

Three-Dimensional Integrated Circuit Design, 2nd Edition
https://www.oreilly.com/library/ ... 780124104846/?_gl=1






发表于 2024-6-1 22:26:17 | 显示全部楼层
??????
发表于 2024-9-18 14:52:52 | 显示全部楼层
kan kan
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