关于动态比较器失调经典矫正方法的疑问

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Masaya Miyahara, Yusuke Asada, Daehwa Paik and Akira Matsuzawa, "A low-noise self-calibrating dynamic comparator for high-speed ADCs," 2008 IEEE Asian Solid-State Circuits Conference, Fukuoka, Japan, 2008, pp. 269-272, doi: 10.1109/ASSCC.2008.4708780.
这篇经典的比较器校正方法被很多论文引用并应用，简单来说就是基于电荷泵给额外的输入端子供电形成压差补偿输入对的失调。
但是我有两个问题：
1.它是用电容存储的电荷来实现校正，用了很多周期，属于前台校正，但是这个电荷在电容CH中是不是会随着时间的推移漏掉，导致需要重新校正？那岂不是会浪费掉特别多的周期去重新矫正？它是不是一个不合格的前台矫正方法呢？
2.它在比较器的输入端引入很多开关，这个开关如果用简单的传输门，就算导通可能也有上百欧姆的电阻，这对于比较器的kickback noise是不是有很坏的影响？工程上有什么方法去制作这个开关呢？

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