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[其它] 半导体制造高速流体静电带电检测方法

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发表于 2024-3-14 08:38:06 | 显示全部楼层 |阅读模式

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LEAN ESD公司的原创性LEANESCM静电测量系统,首次推出高速流体的静电带电检测方案,针对性地面向半导体集成电路Fab与封装制程中的高速水体(HPW或DIW)清洗单元与半导体平板显示(Flat Panel Display)TFT Array Fab制程中的高速水体清洗单元,提供量化的水体静电风险评价依据。

LEANECSM system to measure high pressured fluid charging.jpg
图1.LEANECSM高速水体静电带电测量系统
发表于 2024-3-14 08:43:22 | 显示全部楼层
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