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[求助] 关于MOS电流推导中沟道电荷密度公式的疑问

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发表于 2024-3-7 15:41:10 | 显示全部楼层 |阅读模式

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Razavi和Gray关于深线性区电荷密度都是Qd=WCox(Vgs-Vth),看公式的话,有效的电荷是高于Vth的那部分电压产生的,但是根据阈值电压定义,当Vgs=Vth的时候,反型层浓度已经达到和bulk多子浓度一致,为什么这部分电荷不参与Qd电荷密度的计算呢?而是只按照高于Vth的电压算
发表于 2024-3-7 16:52:31 | 显示全部楼层
沟道和体硅反型的话,哪是不是表面沟道和体硅的N/P不同,是不是存在耗尽区,是不是就应该有个体电容;构成这个体电容两边基本电压降的电荷是不参与运输的。
其实这个解释不那么准确,但是大致是这个意思。其实书上也大致是这个意思,就是体硅耗尽区电容形成后,新增的压降基本都落在栅氧电容上。
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