Mentor tessent mbist test setup

wang_uestc

请问mentor tessent mbist如何定义初始化sequence？谢谢

greatao

通过pdl语法

wang_uestc

greatao 发表于 2024-3-5 17:36
通过pdl语法

如果这个test setup是我们自己的TAP+TDR来控制时钟，mode，请问在文档那一部分有讲到，谢谢

greatao

iProcsForModule my_design
iProc init {} {
  iWrite my_design_rtl_tessent_tdr_sri_tdr1_inst.tdr 0b1
  iWrite my_design_rtl_tessent_tdr_sri_tdr2_inst.tdr 0b0
  iApply
  iRunLoop 10 -tck
  iWrite my_design_rtl_tessent_tdr_sri_tdr2_inst.tdr 0b1
}


1. Source the your *.pdl file prior to running create_pattern_specification

2. After the PatternsSpecification has been created add a ProcedureStep to call the iProc.

read_config_data -in_wrapper PatternsSpecification(my_design,rtl,signoff)/Patterns(MemoryBist_P1) -before TestStep(run_time_prog) -from_string {
ProcedureStep(initialization) {
  iCall(init) { }
}
}

wang_uestc

多谢多谢，我试着写一下
目前碰到一个问题是 PatternsSpecification中有个

    DftControlSettings {
      nonscan_test : 1;
    }

无论如何init都在这个后面，实际电路需要先init来切换GPIO MUX，然后iJTAG才可以写sequence，刚入门的菜鸟请问这个如何解决？谢谢

我尝试过：
read_config_data  -first
read_config_data  -before DftControlSettings
甚至调整 PatternsSpecification 中顺序为
init
DftControlSettings
vector永远是先load DftControlSettings.nonscan_test

wang_uestc

把PatternsSpecification 中的 DftControlSettings删掉，然后在init末尾用：
iWrite digital_top_rtl_bscan_mbist_tessent_tdr_sti_ctrl_inst.nonscan_test 1
可以，请问这是正常方法还是取巧的变通办法？