SPEF和SDF问题

semizj · 发表于 2023-3-13 14:18:20

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请教大牛一个问题，一般芯片都分function mode，test mode。以一个mux为例子，假如function mode下MUX的sel端在sdc中case为0，在test mode下MUX 的sel端在sdc中case为1。
问题1
抽取SPEF的时候，工具会读入sdc 吗？ SPEF 和 sdc中MUX sel的case值有关吗？

问题2
抽取SDF 的时候，工具应该会读入sdc吧？在function mode 下抽取的sdf 和 test mode下抽取的sdf ， mux的delay 信息是否有差异？

peanut_cake · 发表于 2023-3-13 15:26:29

无关

xingyun666666 · 发表于 2023-3-13 15:39:48

为什么会有这种疑问？

semizj · 发表于 2023-3-16 20:37:53

换一种问法，对于一个scan DFF，在sdc中把scan DFF 的 SE端case 成0 后抽取的sdf 为 A.sdf；
对于同样的design，在sdc中把scan DFF 的 SE端不设任何case，抽取的sdf为B.sdf；
A 和 B 中是否所有的delay 值和 timing check 信息都是否完全一致？

voiluce · 发表于 2023-3-17 09:39:50

A 和 B 中是否所有的delay 值和 timing check 信息都是否完全一致？
===
一般情况下， function 和 scan 都需要单独的sdf，因为case 0 /1 的delay。 check 都不一样

semizj · 发表于 2023-3-17 13:45:33

谢谢 voiluce的回复

[原创] SPEF和SDF问题

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