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查看: 1649|回复: 8

[原创] SPEF和SDF问题

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发表于 2023-3-13 14:18:20 | 显示全部楼层 |阅读模式

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请教大牛一个问题,一般芯片都分function mode,test mode。以一个mux为例子,假如function mode下MUX的sel端 在sdc中case为0,  在test mode下MUX 的sel端 在sdc中case为1。
问题1
抽取SPEF的时候 , 工具会读入sdc 吗 ? SPEF 和 sdc中MUX sel的case值有关吗 ?

问题2
抽取SDF 的时候, 工具应该会读入sdc吧 ?   在function mode 下抽取的sdf 和  test mode下抽取的sdf  , mux的delay 信息 是否有差异 ?
发表于 2023-3-13 15:26:29 | 显示全部楼层
无关
发表于 2023-3-13 15:39:48 | 显示全部楼层
为什么会有这种疑问?

 楼主| 发表于 2023-3-16 20:37:53 | 显示全部楼层
换一种问法, 对于一个scan DFF,  在sdc中把scan DFF 的 SE端case 成0 后 抽取的sdf 为  A.sdf;
对于同样的design,在sdc中把scan DFF 的 SE端不设任何case,抽取的sdf为B.sdf;
  A 和 B 中是否所有的delay 值 和  timing check 信息 都是否完全一致 ?
发表于 2023-3-17 09:39:50 | 显示全部楼层
A 和 B 中是否所有的delay 值 和  timing check 信息 都是否完全一致 ?
===
一般情况下, function 和 scan 都需要单独的sdf,因为case 0 /1 的delay。 check 都不一样
 楼主| 发表于 2023-3-17 13:45:33 | 显示全部楼层
谢谢  voiluce的回复
发表于 2025-1-22 11:18:15 | 显示全部楼层


voiluce 发表于 2023-3-17 09:39
A 和 B 中是否所有的delay 值 和  timing check 信息 都是否完全一致 ?
===
一般情况下, function 和 sca ...


请教下大佬,一般芯片中会有多个test mode,那么后仿每个test mode都需要pt 单独提取对应的sdf吗?比如scan test,和mbist test这两个test mode需要分别提取sdf吗?
发表于 2025-1-22 11:25:17 | 显示全部楼层


卡尔西法 发表于 2025-1-22 11:18
请教下大佬,一般芯片中会有多个test mode,那么后仿每个test mode都需要pt 单独提取对应的sdf吗?比如sc ...


是的,一般mbist会和function merge(除非有特殊的操作,比如时钟结构的修改等等),scan要单独出
发表于 2025-1-22 14:38:13 | 显示全部楼层


kevin_dong 发表于 2025-1-22 11:25
是的,一般mbist会和function merge(除非有特殊的操作,比如时钟结构的修改等等),scan要单独出
...


roger that~感谢!!
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