ATPG的覆盖率一直上不去，请问大神该怎么优化

yyloveyou

     Uncollapsed Stuck Fault Summary Report
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fault class                     code   #faults
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Detected                         DT    2381058
Possibly detected                PT       5451
Undetectable                     UD       6258
ATPG untestable                  AU     213619
Not detected                     ND       1018
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total faults                           2607404
test coverage                            91.64%
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            Pattern Summary Report
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#internal patterns                        1820
     #basic_scan patterns                  1820
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RayCing

从summary上，AU fault占比相对较高，可以尝试切换ATPG mode，比如从basic ATPG切换到fast-sequential ATPG或full-sequential ATPG；针对ND fault，可以尝试提高abort limit；针对UD fault，可以尝试插test point的方法

yyloveyou

RayCing 发表于 2023-1-29 18:15
从summary上，AU fault占比相对较高，可以尝试切换ATPG mode，比如从basic ATPG切换到fast-sequential ATPG ...

用full-sequential也没提升，查了下，LDPC_TOP跟memtop的AU多，特别是memtop的覆盖率为0，这个要怎么解决？

RayCing

yyloveyou 发表于 2023-1-30 16:05
用full-sequential也没提升，查了下，LDPC_TOP跟memtop的AU多，特别是memtop的覆盖率为0，这个要怎么解决 ...

不知此处memtop是否指memory。如果是，memory是通过mbist测试的，在scan mode下是需要将其bypass掉的。在tmax中，一般需要将memory设为black box，同时将memory的Q pin设为add_nofauts；另外一个思路是，可以在tmax中读入memory的function pattern(evcd)，将有助于提高memory的coverage

yyloveyou

RayCing 发表于 2023-1-30 17:18
不知此处memtop是否指memory。如果是，memory是通过mbist测试的，在scan mode下是需要将其bypass掉的。在 ...

“可以在tmax中读入memory的function pattern(evcd)”这个具体是怎么操作的，需要改原设计代码吗？

RayCing

yyloveyou 发表于 2023-1-30 17:54
“可以在tmax中读入memory的function pattern(evcd)”这个具体是怎么操作的，需要改原设计代码吗？
...

具体没尝试过，只是给你提供一个思路，tmax UG上有零星提到，你需要自己去try

yyloveyou

RayCing 发表于 2023-1-31 09:54
具体没尝试过，只是给你提供一个思路，tmax UG上有零星提到，你需要自己去try
...

好的，谢谢！！！

yyloveyou

yyloveyou 发表于 2023-1-31 11:01
好的，谢谢！！！

我还有一个疑问想咨询下您，scan chain既然是以前的普通的 flip-flop换成带Mux的flip-flop，那它的时钟应该还是原来的不变，为什么又可以定义各种时钟给flip-flop，硬件上flip-flop是固定死的吖，难道时钟也加了MUX在正常模式与扫描模式时切换时钟？

RayCing

yyloveyou 发表于 2023-1-31 11:17
我还有一个疑问想咨询下您，scan chain既然是以前的普通的 flip-flop换成带Mux的flip-flop，那它的时钟应 ...

你的怀疑是对的。top层时钟结构中插入MUX切换。SDFF在scan mode和function mode下对时钟的要求不一样，不能是同一个时钟。functional clock大概率是来自片内PLL，而scan clock需来自片外，需MUX切换。又如at-speed测试，shift需要低频，capture需要高频，必须有切换才能实现，这时是OCC实现的。

yyloveyou

RayCing 发表于 2023-1-31 11:33
你的怀疑是对的。top层时钟结构中插入MUX切换。SDFF在scan mode和function mode下对时钟的要求不一样，不 ...

非常感谢！！