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楼主: jhliu99

Nonvatile Memory -Flash的可靠性如何评估

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 楼主| 发表于 2008-1-13 21:40:25 | 显示全部楼层
Semiconductor Device Reliablity Failure Models
从Process角度介绍了Wafer Level Reliability的几种实效模型;从Wafer level理解常见的可靠性测试item。
如:EM, TDDB, GOI, VTS, HCI

0_Semiconductor Device Reliability Failure Models.pdf

160.47 KB, 下载次数: 91 , 下载积分: 资产 -2 信元, 下载支出 2 信元

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 楼主| 发表于 2008-1-13 21:51:55 | 显示全部楼层
上帖中提到的WLR中的一个标准测试项:HCI(Hot Carrier Injection)的JEDEC标准

Jesd60A-Procedure for hot carrier measurement.pdf

85.24 KB, 下载次数: 54 , 下载积分: 资产 -2 信元, 下载支出 2 信元

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发表于 2008-1-14 09:04:24 | 显示全部楼层
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发表于 2008-3-11 20:38:36 | 显示全部楼层
连hot - E  都有JEdec 标准啊!
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发表于 2008-3-17 18:35:23 | 显示全部楼层
TKS!!!!!!!!!!!!!!!
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发表于 2008-5-4 09:01:24 | 显示全部楼层

谢谢

!!!!!!!!!!!!!!!!!!
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发表于 2008-7-3 13:09:31 | 显示全部楼层

good

good good
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发表于 2008-7-3 13:27:29 | 显示全部楼层
参阅JEDEC的网站,以及SST的网站可获取较多的参考资料。
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发表于 2008-7-15 20:42:33 | 显示全部楼层
文章太多,下得我没钱拉!!
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发表于 2008-10-24 06:02:01 | 显示全部楼层
TKS!!!!!!!!!!!!!!!
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