Nonvatile Memory －Flash的可靠性如何评估

jhliu99 · 发表于 2008-1-13 21:40:25

Semiconductor Device Reliablity Failure Models
从Process角度介绍了Wafer Level Reliability的几种实效模型；从Wafer level理解常见的可靠性测试item。
如：EM, TDDB, GOI, VTS, HCI

jhliu99 · 发表于 2008-1-13 21:51:55

上帖中提到的WLR中的一个标准测试项：HCI(Hot Carrier Injection)的JEDEC标准

alex_bai · 发表于 2008-1-14 09:04:24

piao · 发表于 2008-3-11 20:38:36

连hot - E 都有JEdec 标准啊！

eetime999 · 发表于 2008-3-17 18:35:23

TKS!!!!!!!!!!!!!!!

wsun515 · 发表于 2008-5-4 09:01:24

！！！！！！！！！！！！！！！！！！

kofkoy2000 · 发表于 2008-7-3 13:09:31

good good

suk.qi · 发表于 2008-7-3 13:27:29

参阅JEDEC的网站，以及SST的网站可获取较多的参考资料。

alanchang · 发表于 2008-7-15 20:42:33

文章太多,下得我没钱拉!!

eetime999 · 发表于 2008-10-24 06:02:01

TKS!!!!!!!!!!!!!!!

谢谢