求教关于使用synopsys工具同时插扫描链和BSD结构后进行ATPG的问题

nujnal

求教各位大佬如何使用synopsys的工具将扫描链和BSD结合起来然后做atpg啊，感觉user guide上关于这两部分都是独立的，主要是涉及到以下的一些问题：
1. bsd和scan及atpg的流程有什么顺序要求吗？我尝试了先插入扫描链，然后插入bsd，然后跑atpg，但是覆盖率受到了很大的影响，很多故障都分成AU了。而且插入bsd的时候并不会生成test protocol，再做atpg的时候应该是不能用之前插扫描链的时候生成的test protocol的吧，这里需要怎么做处理呢？
2. 如果先插扫描链然后做atpg，然后再插bsd结构，那么中间atpg生成的pattern应该怎么做处理呢？直接用应该是不能用的吧？
3. 插扫描链的时候电路里就已经有pad了，定义dft signal的时候也是hook up到pad的output或者input上的，那atpg的时候要考虑pad上的故障吗？好像是会影响覆盖率的
4. scan相关的端口，例如scan in、scan en、test mode等一般都是需要上bsd chain的吗？如果想复用function 端口做si so，在bsd的时候需要做设置吗？
欢迎各位大佬指点，感激不尽！！

greatao

1. 一般是先插bsd，然后再scan，最后ATPG
3. 默认会考虑pad上的fault上的，你可以报告fault看看。
4. 控制进入DFT mode的IO不要bsd，晶振IO不要bsd，模拟IO无法bsd

想复用function 端口做si so，在bsd的时候需要做设置吗？---->没用过bsd，tessent可以指定参数，然后工具会插入复用的逻辑，hookup上去即可，当然也可以自己ECO进行复用。