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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 讨论区 › tessent工具能跳过edt流程直接scan insertion吗？ ...
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查看: 1756|回复: 7

[求助] tessent工具能跳过edt流程直接scan insertion吗？

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Joey.Yu
发表于 2022-6-24 15:31:21 | 显示全部楼层 |阅读模式

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如题，寻求大佬解答一下，小弟在做dft流程中，希望直接跳过edt流程直接scan insertion再产生pattern，但是scan insertion流程正常，能生成scan chain，但是在pattern生成流程中出现问题，生成不了pattern，不知道是为什么，是因为tessent目前不支持直接跳过edt吗？ image.png


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greatao
发表于 2022-6-27 09:12:07 | 显示全部楼层
支持不插EDT，也就是插长链。你ATPG失败，是no undetectd faults available，也就是tessent没有找到设计中的faults点。
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quanqiutong
发表于 2022-6-27 09:26:32 | 显示全部楼层
当然可以
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guiqix
发表于 2022-6-27 13:44:32 | 显示全部楼层
set_fault_type stuck
add_faults -all
create_patterns
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老毛桃
发表于 2022-6-27 16:23:15 | 显示全部楼层
支持不插edt
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Joey.Yu
 楼主| 发表于 2022-6-27 17:14:27 | 显示全部楼层


guiqix 发表于 2022-6-27 13:44
set_fault_type stuck
add_faults -all
create_patterns


谢谢，不过我试了一下还是没有区别
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Joey.Yu
 楼主| 发表于 2022-6-27 17:18:10 | 显示全部楼层


老毛桃 发表于 2022-6-27 16:23
支持不插edt


就是直接按照synthesis→scan insertion→ATPG的流程是可以的是吧，但是看了2020版tessent的文档似乎没有找到如何直接跳过edt，是不是得用tessent fastscan呢
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老毛桃
发表于 2022-7-1 17:18:18 | 显示全部楼层
可以，记得要定义时钟
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