手机号码,快捷登录
找回密码
登录 注册
lizhihao1225 发表于 2022-3-31 10:25 为什么stuck-at只需要一个capture cycle 而at-apeed要两个
举报
HeNGBB 发表于 2022-9-13 10:13 Stuck-at测试通常需要高覆盖率,而往往memory的shadow logic比较难覆盖影响覆盖率 所以引入RAM-SEQ Pattern ...
本版积分规则 发表回复 回帖后跳转到最后一页
查看 »
小黑屋| 关于我们| 联系我们| 在线咨询| 隐私声明| EETOP 创芯网 ( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )
GMT+8, 2024-5-22 07:39 , Processed in 0.021393 second(s), 7 queries , Gzip On, Redis On.