at speed 测试，为什么有时需要OCC 提供4个capture cycle？

RayCing

at speed 测试时，采用OCC结构，OCC可以控制capture 过程中pulse 的个数，例如4个capture cycle。咱们一般不是只需两个两个吗？launch 一个，capture一个，多出来的capture cycle用来干什么？什么情况下才会用到多于2个capture cycle的情况呢？

wgf95109

同问

fatal404

一般最基本的Scan的时序是两个pulse，但是这个是stuck_at 这种fault的，但是OCC应该是有了transition 这种fault的时候才需要的，可能是这个原因才需要四个pulse，并且OCC原本就是为了ATE提高测试速度的。

我也是入门小白，还在stuck_at 挣扎，上面是我的一些想法，供大家讨论，我也不确定对错。

RayCing

fatal404 发表于 2022-3-20 22:18
一般最基本的Scan的时序是两个pulse，但是这个是stuck_at 这种fault的，但是OCC应该是有了transition 这种f ...

感谢回复！

加OCC是为了解决普通ATE 无法提供高速function clock的问题，它用于切换at speed测试时PLL产生的fast clock（capture阶段用）以及ATE进来的slow clcok（shift阶段用）。stuck at测试的shift和capture只需slow clock就够了,且capture阶段只需要一个 cycle就够了，因此无需OCC。

at speed 测试，常用的两种capture方式，一是launch-on-shift，二是launch-on-capture，目前常用的是第二种，且一般情况下即capture阶段（SE变低的阶段）只需两个cycle即可。

有一些特殊情况，比如multicycle，就需要多余两个cycle的情况。

fatal404

RayCing 发表于 2022-3-21 09:55
感谢回复！

加OCC是为了解决普通ATE 无法提供高速function clock的问题，它用于切换at speed测试时PLL产 ...

学到了，也谢谢你的讲解~

lizhihao1225

为什么stuck-at只需要一个capture cycle 而at-apeed要两个

RayCing

lizhihao1225 发表于 2022-3-31 10:25
为什么stuck-at只需要一个capture cycle 而at-apeed要两个

由fault model决定的，stuck-at 是单点故障建模，当PI和PPI都加上后，只需通过一个capture cycle将combination cloud的response capture到scan cells中，最后被shift out进行 observe；at-speed是一种测试方式，用于测试transition fault, path delay fault，甚至bridge fault，但主要测试transition fault。我们通常说的的at-speed，可以近似认为是transition fault，transition fault的建模方式就是用0~1或1~0的跳变，因此必须有两个vector才能实现。以0~1为例，shift阶段已经让故障点保持为0了，为了让该故障点产生一个transition，需先用第一个 capture cycle让其变为1，第二个capture就是同stuck-at一样了，就是将combination cloud的response capture到scan cells中，所以at-speed比stuck at多出的一个capture cycle是由transition本身故障模型决定的；

另外，at speed用一个capture cycle也行，就是我之前提过的launch off shift方式，不过这种方式对SE要求较高，一般用得很少。

老毛桃

fast pattern？ 看一下那个pattern 的类型

lizhihao1225

RayCing 发表于 2022-4-2 10:01
由fault model决定的，stuck-at 是单点故障建模，当PI和PPI都加上后，只需通过一个capture cycle将combin ...

谢谢大佬

RayCing

老毛桃 发表于 2022-4-2 10:45
fast pattern？ 看一下那个pattern 的类型

好的，感谢回复