ATPG流程时覆盖率太低是由MBIST导致，怎么解决

IC菜鸟无敌

ATPG流程时覆盖率太低是由MBIST导致，怎么解决？
目前在做的项目，覆盖率仅76%，根据我的分析，全是MBIST导致的！我看论坛里的说法，搞bypass逻辑，可以提升覆盖率，但bypass逻辑是针对memory本身的，但MBIST相关的逻辑，比如mbist controller、interface这些怎么解决？现在用的tessent shell流程，逻辑里做了IJTAG这些，里面的逻辑看起来乱得不得了，有ijtag相关的逻辑，还有mbist_bap、mbist_controller等等，这些逻辑严重影响覆盖率，MBIST这边产生不少寄存器和组合逻辑，这些组合逻辑全部覆盖不到，导致覆盖率低！bypass逻辑对MBIST逻辑没用！
大家请看下面图片是一个D5检查违例，这个寄存器GO_ID_REG就是MBIST逻辑产生的，ATPG覆盖不到！这个寄存器的复位端不可控！而复位信号是由IJTAG、MBIST相关逻辑给出的，很不好trace。


我看了tessent shell的手册，没发现有什么介绍，这是在手册里找到下面一段脚本的指定，关于mbist scan_bypass_logic的内容，然而我照着做，不起作用啊！

greatao

tessent MBIST用的是ijtag架构，1687协议，需要好好研究下，GO_ID 寄存器可以串到scan chain的，你要debug下哪里不可控，DRC Rule D5: Set input I of DLAT S was not controlled，如果是reset不可控，应该是你MBIST的时候没有设置。