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楼主 |
发表于 2021-7-2 16:30:16
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前辈,是这样,我们是有加这种二极管进行不同GND隔离的。LVS能正常过的。
我们这款芯片有三个GND接到PAD,分别HPGND、DGND、AGND,但后来实测原版芯片发现他们之间的电阻有十几兆欧。可能是对噪声要求比较高,特地把GND分离开了。我们的都短路了。
然后看了下原版的芯片的版图,发现他们的所有MOS(模拟、数字、IO ESD cell)的衬底都是接在AGND上的。DGND接在了数字的源极、HPGND也是只接了MOS的源极。ESD模块也只接了AGND,所以相当不同GND是相互断路的,阻值也就很大。
我们第一版没有考虑这个问题,数字衬底都接了DGND,模拟衬底接了AGND HPGND。出来的芯片GND直接的阻值只有十几欧姆。
现在发现问题后,我们也想改成这样,结果发现IO ESD cell的NMOS衬底都有接HPGND、DGND、AGND。衬底应该在物理层面都是短路的吧?
那想着如果这ESD的衬底不能统一改成AGND。到时候做出来还是不同GND会短路吧?
毕竟SMIC IO是用了SUDB这种虚拟标记层骗过LVS,才让LVS不提示短路的。
我这么理解对吗?
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