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[求助] IEEE文献求帮忙下载

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发表于 2020-11-6 12:48:37 | 显示全部楼层 |阅读模式
200资产
求帮忙下载: Data Mining for Optimizing IC Feature Designs to Enhance Overall Wafer Effectiveness

Published in: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing ( Volume: 27, Issue: 1, Feb. 2014)

最佳答案

发表于 2020-11-6 12:48:38 | 显示全部楼层
好了

06671439.pdf

1.02 MB, 下载次数: 21 , 下载积分: 资产 -2 信元, 下载支出 2 信元

 楼主| 发表于 2020-11-6 14:59:51 | 显示全部楼层
有没有好心人帮我下载下,谢谢了
 楼主| 发表于 2020-11-9 08:58:08 | 显示全部楼层


多谢!!
发表于 2020-11-9 09:29:03 | 显示全部楼层
感谢
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