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查看: 1903|回复: 4

[求助] IEEE文献求帮忙下载

发表于 2020-11-6 12:48:37 | 显示全部楼层 |阅读模式

200资产

求帮忙下载： Data Mining for Optimizing IC Feature Designs to Enhance Overall Wafer Effectiveness

Published in: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing ( Volume: 27, Issue: 1, Feb. 2014)

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好了

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发表于 2020-11-6 12:48:38 | 显示全部楼层

好了

1.02 MB, 下载次数: 21 , 下载积分: 资产 -2 信元, 下载支出 2 信元

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楼主| 发表于 2020-11-6 14:59:51 | 显示全部楼层

有没有好心人帮我下载下，谢谢了

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楼主| 发表于 2020-11-9 08:58:08 | 显示全部楼层

LUSR 发表于 2020-11-6 12:48
好了

多谢！！

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发表于 2020-11-9 09:29:03 | 显示全部楼层

感谢

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