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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › 数字系统测试和可测试性设计_（美）纳瓦比著 下载 ...
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楼主: tuchengli

[资料] 数字系统测试和可测试性设计_（美）纳瓦比著 下载

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echoeswen
发表于 2020-8-18 09:53:20 | 显示全部楼层
不错，赞一个
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Callback81
发表于 2020-9-17 16:06:33 | 显示全部楼层
三个下载完还永不了呀
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zww_ee
发表于 2020-10-11 09:12:31 | 显示全部楼层
感谢分享
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250740247
发表于 2020-11-17 10:05:31 | 显示全部楼层
非常感谢
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mwq8800
发表于 2020-11-28 17:11:04 | 显示全部楼层
下载后解压不了
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dreamfly123123
发表于 2020-12-2 14:28:11 | 显示全部楼层
真的是不错的资料
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dragon神
发表于 2021-3-18 11:48:43 | 显示全部楼层
感谢分享
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dragon神
发表于 2021-3-18 11:59:54 | 显示全部楼层
解压不了！骗子
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areslee
发表于 2021-4-6 21:06:41 | 显示全部楼层
非常感谢！！！
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jiejieone
发表于 2021-4-10 10:28:33 | 显示全部楼层
Intro to Innovus 15.1 and Block Implementation Flow
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