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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › 数字系统测试和可测试性设计_（美）纳瓦比著 下载 ...
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楼主: tuchengli

[资料] 数字系统测试和可测试性设计_（美）纳瓦比著 下载

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jack_20150410
发表于 2023-9-12 13:26:32 | 显示全部楼层
thanks
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mmmmmr77777
发表于 2023-9-23 16:33:46 | 显示全部楼层
棒棒哒
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发表于 2023-9-26 10:35:48 | 显示全部楼层
深度专业内容全面，实战性强，很有指导意义，学习学习
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mmmmmr77777
发表于 2023-9-26 17:09:43 | 显示全部楼层
谢谢大家，呜呜
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xixilu
发表于 2023-9-26 19:55:10 | 显示全部楼层
经典好书，看看
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lwm184878893
发表于 2023-10-14 09:04:19 | 显示全部楼层
nihao
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lwm184878893
发表于 2023-10-14 09:07:06 | 显示全部楼层
nihao
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cmmjava
发表于 2023-10-21 04:04:36 | 显示全部楼层
感谢分享
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公子无忌
发表于 2023-11-10 15:41:31 | 显示全部楼层
？？？为什么少了一个文件
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cmmjava
发表于 2023-11-13 00:30:15 | 显示全部楼层
感谢分享
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