请问各位在做pr时的sdc是包含scan的sdc吗？

mandrake · 发表于 2019-5-22 10:27:38

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我们的pr流程现在是只用func的sdc来做，routing后修func 的timing，修完func timing再修scan timing。
这样的流程中最后修scan 时，有时hold会比较大，比较难修。工艺比较低，所以我们准备使用mcmm。

不知道是不是修改个sdc，将func和scan的sdc都包含进去，这样来做pr会比较好。

haoshiyang · 发表于 2019-5-22 10:48:26

是的你可以分开设scenario，这样优化会好些，不至于那么多hold不满足。而且，要把非scan clock的SI端设成false path，修timing的时候才不会乱

mandrake · 发表于 2019-5-22 14:46:57

haoshiyang 发表于 2019-5-22 10:48
是的你可以分开设scenario，这样优化会好些，不至于那么多hold不满足。而且，要把非scan clock的SI端设成f ...

谢谢你的回复，有些了解了，我试试使用mcmm来做了

刺客无痕 · 发表于 2019-5-22 14:55:58

写成func.sdc和scan.sdc来做mcmm

mandrake · 发表于 2019-5-22 14:58:45

刺客无痕发表于 2019-5-22 14:55
写成func.sdc和scan.sdc来做mcmm

本来是没想用mcmm，项目比较小，想只用一个sdc，这样看是不是生成的clock tree会更节约资源

quanqiutong · 发表于 2019-5-24 09:59:55

听说使用mcmm做cts会比价大，是这样吗？

ydh2017 · 发表于 2019-7-22 10:39:05

刺客无痕发表于 2019-5-22 14:55
写成func.sdc和scan.sdc来做mcmm

请问一下，scan_sdc是不是只需要约束scan的clock就行了?

刺客无痕 · 发表于 2019-7-22 15:11:53

ydh2017 发表于 2019-7-22 10:39
请问一下，scan_sdc是不是只需要约束scan的clock就行了?

跟func.sdc要约束的种类一样啊，只是scan的都用scan所要求的约束

ydh2017 · 发表于 2019-7-22 15:24:28

刺客无痕发表于 2019-7-22 15:11
跟func.sdc要约束的种类一样啊，只是scan的都用scan所要求的约束

func.sdc约束的是正常工作模式下的约束，scan.sdc约束的是dft模式，那么这两个的区分是否需要定义test_mode 为0或1？如果需要的话怎么定义呢？

刺客无痕 · 发表于 2019-7-22 18:03:17

ydh2017 发表于 2019-7-22 15:24
func.sdc约束的是正常工作模式下的约束，scan.sdc约束的是dft模式，那么这两个的区分是否需要定义test_mo ...

func下test mode=0，scan下test mode=1，其他的种类一样，按照各个模式需求设置

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