[求助] 温度传感器测试求助

发表于 2018-11-29 14:13:10 | 显示全部楼层 |阅读模式

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实验室设计的温度传感器芯片，采用PTAT电压源+SAR ADC的结构。流片后常温下测试结果与后仿相符，我打算测试PTAT电压的温度特性时发现将芯片放入温箱，VPTAT端口输出波形将会出现很大的杂波。请问有做过温度传感器测试的人知道这种现象是由于什么因素产生的吗？杂波.jpg

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