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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › Analog/RF IC 设计 › Analog/RF IC 资料共享 › sub-40nm LDE(Layout Dependent effect)效应分析
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楼主: xyy021007

[资料] sub-40nm LDE(Layout Dependent effect)效应分析

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胭脂盗
发表于 2021-12-7 21:22:55 | 显示全部楼层
Layout Dependent Effect Impact on device performance and reliability in recent CMOS.pdf (747.48 KB, 下载次数: 32 )
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goushenggaga
发表于 2022-5-18 09:30:43 | 显示全部楼层
谢谢分享
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hehuachangkai
发表于 2022-5-18 11:38:52 | 显示全部楼层
感谢分享，看看先
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andy2000a
发表于 2022-6-13 09:07:22 | 显示全部楼层
本帖最后由 andy2000a 于 2022-6-13 09:09 编辑

good  ..
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carter_jim
发表于 2022-6-13 10:14:41 | 显示全部楼层
谢谢分享
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yongjiefan
发表于 2022-9-13 19:43:50 | 显示全部楼层
谢谢，非常有用
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shelley813
发表于 2022-10-19 23:22:23 | 显示全部楼层
谢谢分享
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zsmic
发表于 2022-10-28 10:38:05 | 显示全部楼层
楼主有LDE analyzer相关资料吗
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Mibio
发表于 2022-11-4 10:55:02 | 显示全部楼层
多謝樓主
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jingxin_xd
发表于 2022-11-15 14:03:19 | 显示全部楼层
谢谢分享
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