在线咨询
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
切换到宽版

EETOP 创芯网论坛 (原名:电子顶级开发网)

手机号码,快捷登录

手机号码,快捷登录

找回密码

  登录   注册  

快捷导航
搜帖子
查看: 2094|回复: 3

[求助] 分段结构SAR AD后仿线性度(INL)变差??

[复制链接]
发表于 2018-8-16 18:52:36 | 显示全部楼层 |阅读模式

马上注册,结交更多好友,享用更多功能,让你轻松玩转社区。

您需要 登录 才可以下载或查看,没有账号?注册

x
本帖最后由 林厅子 于 2018-8-16 19:25 编辑

大家好,最近遇到这样一个问题:
        12-bit单端“6+6”电容阵列SAR ADC,转换速率,其中高段电容阵列和低段电容阵列的高4位采用温度码控制,参考源采用的是理想参考。在进行后仿线性度(INL)验证时,带CC的结果INL在1.5LSB左右;带RCC后INL增加到3LSB,第5位和第6位的偏差很大。INL采用特殊点的方法仿真得到

为了寻找原因,进行了下面的验证:
1、排除比较器比较速度的影响,使用理想比较器,第5位和第6位的偏差很大,INL基本没有改善。
2、DAC的输出建立也满足精度的要求。
暂时想不出还有其他的哪些原因,路过的各位朋友,帮帮忙,请指导一下,谢谢!!
 楼主| 发表于 2018-8-17 14:51:54 | 显示全部楼层
此帖仅作者可见
发表于 2018-8-17 16:06:35 | 显示全部楼层
此帖仅作者可见
 楼主| 发表于 2018-8-17 17:36:04 | 显示全部楼层
此帖仅作者可见
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /2 下一条


小黑屋| 手机版| 关于我们| 联系我们| 在线咨询| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2024-11-24 12:35 , Processed in 0.015398 second(s), 6 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表