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[求助] 请教:动态比较器的offset如何仿真

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发表于 2017-10-17 17:16:28 | 显示全部楼层 |阅读模式

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    对于动态比较器(SA,Dynamic Latch等)的offset的仿真方法一直存在疑问,希望能得到前辈们的赐教。下面是我的一些见解:    对于静态比较器的仿真方法,可以从offset的定义出发,采用DC sweep的仿真方法,注意不是tran,然后观察输出结果发生翻转时的输入电压差。

对于动态比较器,目前看到的方法有:

1、和静态比较器的原理类似,不过是采用tran仿真,输入一个ramp信号,观察输出发生翻转时(或者-0.5clk时)的输入差,采用value cross方式,但是理论上这种方法存在最大±0.5clk+比较时间的偏差问题(理论上最大偏差应该是这样的,但是实际是否也是如此?)。采用此方法得到的offset只有几个mV,但是看到paper上的数据一般都是几十mV量级。

2、Reference:methodology for the offset-simulation of comparators(designer guide)这种方法采用开环的方法,原理上类似ADC的码密度法:以一个已知概率的信号作为输入(斜波或者三角波),然后根据仿真测试结果计算出实际的概率,进而反推出比较器的offset。采用此方法对于不同斜率的ramp信号(不同step)得到的offset大不相同,随着step的减小,offset越来越大

3、Reference:

IEEE_2005_A simulation method for accurately determining DC and dynamic offsets in comparators,这种方法采用闭环的方法,原理上类似于SDM。具体的testbench如何搭建及仿真我还没有做。

4、Reference:IEEE-2014-Closed-loop Simulation Method for Evaluation of Static Offset in Discrete-Time Comparators,这种方法原理上和上面的差不多,但是会大幅度降低仿真的时间,因为其采用了类似于SAR的二进制搜索算法。具体的testbench如何搭建及仿真我还没有做。

不知道前辈们是如何仿真动态比较器的offset的,欢迎赐教。谢谢啦!附件是这几篇paper。



Closed-loop Simulation Method for Evaluation of Static Offset in Discrete-Time Comparators.pdf (383.84 KB, 下载次数: 1093 )


A methodology for the offset-simulation of comparators.pdf (124.63 KB, 下载次数: 1305 )


IEEE_2005_A simulation method for accurately determining DC and dynamic offsets in comparators.PDF (355.94 KB, 下载次数: 964 )


发表于 2017-10-18 19:55:19 | 显示全部楼层
记得原来的做法是输入一个半大不小的固定dc值,然后跑tran的mc,统计0/1的概率,然后拟合出来offset的sigma;

补充内容 (2024-3-22 08:21):
描述有误;
tran仿offset:输入加ramp,跑tran的mc仿真,统计翻转时输入电压即为offset分布;
tran仿noise:输入加小dc,跑tran仿真,开tran noise,统计0/1概率;
 楼主| 发表于 2017-10-19 09:24:05 | 显示全部楼层
回复 2# ericking0


   嗯嗯,那感觉和第二种方法差不多,谢谢啦
发表于 2018-6-1 10:00:13 | 显示全部楼层
学习了
发表于 2018-9-29 02:19:18 | 显示全部楼层
非常感謝~~~~
发表于 2018-11-13 13:01:37 | 显示全部楼层
louzhu 确实会总结 谢谢
发表于 2018-12-15 16:40:06 | 显示全部楼层
谢谢分享
发表于 2019-1-16 10:59:35 | 显示全部楼层
发表于 2019-1-16 11:02:22 | 显示全部楼层
感谢感谢!!!
发表于 2019-2-23 19:48:51 | 显示全部楼层
very good  thank you
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