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对于动态比较器(SA,Dynamic Latch等)的offset的仿真方法一直存在疑问,希望能得到前辈们的赐教。下面是我的一些见解: 对于静态比较器的仿真方法,可以从offset的定义出发,采用DC sweep的仿真方法,注意不是tran,然后观察输出结果发生翻转时的输入电压差。
对于动态比较器,目前看到的方法有: 1、和静态比较器的原理类似,不过是采用tran仿真,输入一个ramp信号,观察输出发生翻转时(或者-0.5clk时)的输入差,采用value cross方式,但是理论上这种方法存在最大±0.5clk+比较时间的偏差问题(理论上最大偏差应该是这样的,但是实际是否也是如此?)。采用此方法得到的offset只有几个mV,但是看到paper上的数据一般都是几十mV量级。 2、Reference:methodology for the offset-simulation of comparators(designer guide)这种方法采用开环的方法,原理上类似ADC的码密度法:以一个已知概率的信号作为输入(斜波或者三角波),然后根据仿真测试结果计算出实际的概率,进而反推出比较器的offset。采用此方法对于不同斜率的ramp信号(不同step)得到的offset大不相同,随着step的减小,offset越来越大。 3、Reference:IEEE_2005_A simulation method for accurately determining DC and dynamic offsets in comparators,这种方法采用闭环的方法,原理上类似于SDM。具体的testbench如何搭建及仿真我还没有做。 4、Reference:IEEE-2014-Closed-loop Simulation Method for Evaluation of Static Offset in Discrete-Time Comparators,这种方法原理上和上面的差不多,但是会大幅度降低仿真的时间,因为其采用了类似于SAR的二进制搜索算法。具体的testbench如何搭建及仿真我还没有做。 不知道前辈们是如何仿真动态比较器的offset的,欢迎赐教。谢谢啦!附件是这几篇paper。
Closed-loop Simulation Method for Evaluation of Static Offset in Discrete-Time Comparators.pdf
(383.84 KB, 下载次数: 1088 )
A methodology for the offset-simulation of comparators.pdf
(124.63 KB, 下载次数: 1298 )
IEEE_2005_A simulation method for accurately determining DC and dynamic offsets in comparators.PDF
(355.94 KB, 下载次数: 955 )
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