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楼主: xingyun666666

[讨论] PR数字后端中关于scan chain的

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发表于 2016-6-29 14:58:58 | 显示全部楼层
回复 10# 杰克淡定


   真是热心肠啊,赞一个!
发表于 2016-6-30 14:19:55 | 显示全部楼层
我是来看回复的
发表于 2016-10-21 13:34:22 | 显示全部楼层
受教了,做后端以来一直不明白scan的工作方式,不懂shift capture分别进行什么动作,终于明白了,谢谢分享!!
发表于 2017-4-8 10:24:49 | 显示全部楼层
回复 4# 杰克淡定


  讲解的很透彻,多谢分享
发表于 2017-6-8 15:51:13 | 显示全部楼层
请教一个基本的问题,使用scan 有什么意义?
发表于 2017-8-8 16:20:10 | 显示全部楼层
回复 15# 小坤坤帅
scan can test a combination logic function right or wrong.Futhermore,you can just known the logic is a black box.
发表于 2017-8-9 09:37:46 | 显示全部楼层
回复 16# 1013613986

功能性的测试有验证工程师做,多增加的这个scan测试的意义我不太清楚。再次看了上面的回复和问题,我可以理解为scan测试主要是针对组合逻辑的一种测试么?如果只是想要验证逻辑功能的正确与否,验证工程师不能做么?这里我不是太清楚,谢谢。
发表于 2017-10-24 15:49:51 | 显示全部楼层
回复 17# 小坤坤帅

   验证是对电路的function进行验证,确保是与spec一致的,而scan属于DFT的一部分,是专门用来测试制造过程中可能带来的缺陷,举个例子,在深亚微米的工艺中,某条net因为过蚀或者过参杂导致存在短路或者断路,这种情况可能会导致芯片废掉,你可能会问那是芯片制造过程中需要的测试,跟我们design有什么关系,事实上,需要在design阶段就做dft的原因在于,它会节省ATE大量的测试时间,时间就是成本~~~
发表于 2019-2-14 10:21:03 | 显示全部楼层
受教了,非常感谢。
发表于 2021-9-30 10:13:19 | 显示全部楼层
讲的真好,之前看书在扫描链原理这总是半知半解,现在终于明白了,谢谢分享
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