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各位亲们:
先说说设计的基本情况:
芯片会先输入一段password进TMU模块(test mode unit),密码对上后TMU会送出一个信号给mbist(test_h),即进入mbist mode,然后开始自测试。
现在的问题是:
在生成verilog之前,我强制在CHIP netlist里把mbist的模式标志位(test_h)拉高来进入mbist mode的,所以生成出来的verilog就只有进模式之后的那段pattern。现在想把送password进模式的那段行为和进模式之后的自测试行为合二为一来生成pattern,不知道怎么来弄?
我用的工具是mbistarchitect,试了下load procedure file这个命令(想加入test_setup proc),没有作用
想请大家帮帮忙,谢谢! |
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