CP测试SCAN时出错,求大神帮忙看看...感激不尽!!!!!

zxhtiger

目前CP测试BIST 部分已经pass.SCAN部分却一直不通过.我们给的测试程序为11chain, 32pattern. 测到第3个pattern时发现出来的结果快了一个周期,导致后面全部错误.



_____________________________以下是fail report location___________________________
P/F    Test        Test   Judge   Test                        Socket    Fail                File\Line\Message                                                
       Count        No.    No.    Type                         No.      Address                                                                                 
FAIL   45478       1002      1    FUNC(SCAN_TEST.pat)            0    SPM 64965(SCAN_TEST_PAT+21189)  A141009_3360P_CP_2S_V01.pln\159\==   FUNC_TEST  ==         


SPM     64965(21189) 011X11LXLXLXHXH0H0H/0_X1HHXX 45478                                                                                                         
SPM     64966(21190) 011X11/XLXLXH1/0_0H/0_01HH10 45479                                                                                                         
SPM     64967(21191) 011X11LXLXLXH1H0H0HL0_11_H10 45480                                                                                                         
SPM     64968(21192) 011X11LX/XLXH1L0H0H_0_01/H10 45481                                                                                     _________________________________________________________________________________________                 


____________________________________以下是测试程序对应出错的位置____________________________________-
*011X11X0X1X1X0H0L1HH1X10XX00 * TS1;            // r21187 4.5475ms  45474//  "pattern 3"/"Internal_scan_pre_shift"   
*0X1X11XXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXX * TS2; // r21188 4.5476ms  45475                                                      
*010X11XXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXX * TS1;            // r21189 4.5477ms  45476                                            
*011X11LXLXLXHXH0H0HH0LX1HHXX * TS1;            // r21190 4.5478ms  45477                                            
*011X11HXLXLXH1H0L0HH0L01HH10 * TS1;            // r21191 4.5479ms  45478                                            
*011X11LXLXLXH1H0H0HL0L11LH10 * TS1;            // r21192 4.548ms   45479                                            
*011X11LXHXLXH1L0H0HL0L01HH10 * TS1;            // r21193 4.5481ms  45480                                            
*011X11LXLXLXH1L0H0HH0H01HH10 * TS1;            // r21194 4.5482ms  45481                                            
*011X11LXLXLXH1L0H0HL0L01HH10 * TS1;            // r21195 4.5483ms  45482                                            

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报告指出从45478开始出错.我对比了一下报告中的45478和测试程序45477对应,即我说的快了一个周期.如下:
SPM     64965(21189) 011X11LXLXLXHXH0H0H/0_X1HHXX 45478      
                            *011X11LXLXLXHXH0H0HH0LX1HHXX * TS1;            // r21190 4.5478ms  45477        



不知道是不是自己哪里理解错了,跪求大神们抽空看看,谢谢!!!

whating

测试平台是否有做过TDR?

empty_085

工具不能做diag 吗？

mindy_xj

那把预期结果推迟一个周期不就行了吗

杰克淡定

光看你这个错误报告，大家不可能给你出错原因的。如果在很多片IC上都是从相同的地方开始错位，那就需要从设计上查找原因，请设计人员协助跑post netlist的atpg仿真。把你IC测试上开始错位的点报给设计人员，设计人员是可以追踪到具体从哪一个DFF开始出错的，找到这个DFF后，检查这个DFF是否存在时序上的violation，或者有没有其他可疑问题。