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查看: 2234|回复: 4

[求助] DFT分模块scan

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发表于 2016-2-18 13:51:19 | 显示全部楼层 |阅读模式

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请问一个顶层包含两个模块A和B,为了降低测试功耗,怎么分开做scan?假如有两个控制信号test_mode1和test_mode2
是用multiple test mode 还是 partition?
以及TMAX时怎样生成pattern,是同一个还是分成两个?
最好谁有个分模块scan的脚本参考一下,感谢感谢
 楼主| 发表于 2016-2-19 09:41:14 | 显示全部楼层
顶顶,求人解答~
发表于 2020-8-6 11:50:29 | 显示全部楼层
本帖最后由 trace_of_wind 于 2020-8-6 11:58 编辑

请问你解决测试功耗过大,分开做scan的问题了吗?

我现在也遇到这个问题了,DFT外包人员说如果测试功耗太大,可以分partition测试。

我对这有疑问,疑问的点是:如果分partition测试,那么partition的端口中,不是scanin scanout的端口应该可控可观测,否则只靠SI SO,覆盖率应该会受影响。

想请教一下,分partition测试需要特殊的scan结构吗?
发表于 2020-8-7 15:17:56 | 显示全部楼层
你好,Zhang 先生,看到你之前的帖子是2016年的,看来你已经很久没上过论坛了,希望有一天你能看到留言,并且加上我的微信,我是猎头Tina,期待你的回复!
发表于 2020-8-7 15:20:44 | 显示全部楼层
你好,Zhang 先生,我是猎头Tina,目前在运作DFT的职位,期待你的回复!
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