DFT分模块scan

zhangbchao · 发表于 2016-2-18 13:51:19

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请问一个顶层包含两个模块A和B，为了降低测试功耗，怎么分开做scan？假如有两个控制信号test_mode1和test_mode2
是用multiple test mode 还是 partition?
以及TMAX时怎样生成pattern,是同一个还是分成两个？
最好谁有个分模块scan的脚本参考一下，感谢感谢

zhangbchao · 发表于 2016-2-19 09:41:14

顶顶，求人解答～

trace_of_wind · 发表于 2020-8-6 11:50:29

本帖最后由 trace_of_wind 于 2020-8-6 11:58 编辑

请问你解决测试功耗过大，分开做scan的问题了吗？

我现在也遇到这个问题了，DFT外包人员说如果测试功耗太大，可以分partition测试。

我对这有疑问，疑问的点是：如果分partition测试，那么partition的端口中，不是scanin scanout的端口应该可控可观测，否则只靠SI SO，覆盖率应该会受影响。

想请教一下，分partition测试需要特殊的scan结构吗？

IC小魔女 · 发表于 2020-8-7 15:17:56

你好，Zhang 先生，看到你之前的帖子是2016年的，看来你已经很久没上过论坛了，希望有一天你能看到留言，并且加上我的微信，我是猎头Tina，期待你的回复！

IC小魔女 · 发表于 2020-8-7 15:20:44

你好，Zhang 先生，我是猎头Tina，目前在运作DFT的职位，期待你的回复！

[求助] DFT分模块scan

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