FT 测试 at-speed scan fail

dzkxybx · 发表于 2016-1-11 09:03:55

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本帖最后由 dzkxybx 于 2016-1-21 10:50 编辑

请问有大神指导，这种情况，应该往哪些方面去查原因么？
后仿是at-speed，low-speed都过的，不管是Internal-Scan还是Compressed-Scan，谢谢！

问题更新：
现在只测试low-speed, internal-scan.发现测试频率要降到很低才能过：目标30MHz fail，100KHz的时候部分芯片能过，30KHz的时候才能稳定的pass。各位大神帮忙看看可能哪个环节会出问题。

根据目前的信息，个人感觉也不太像timing的问题，正常timing问题，不需要降这么夸张吧？

dzkxybx · 发表于 2016-1-12 09:30:32

求助，望大神帮忙谢谢了

emerlai · 发表于 2016-1-12 11:30:06

At speed -> decrease speed step by step-> get highest speed for testing pass
shmoo clock to data (setup and hold time)-> set the central timing on pass window-> increase testing speed

dzkxybx · 发表于 2016-1-13 08:55:36

回复 3# emerlai

谢谢答复！

dzkxybx · 发表于 2016-1-21 10:50:40

顶上去，盼回复

sukong123 · 发表于 2016-1-22 12:40:45

遇到过类似的情况，
你看看能否对IC数字电路逻辑稍微加压试一下？

dzkxybx · 发表于 2016-1-22 12:53:07

回复 6# sukong123

谢谢，我bist测试是正常的。就scan不行。2种测试用的电压一样。

sukong123 · 发表于 2016-1-25 10:09:48

回复 7# dzkxybx

按照我的理解，Bist一般针对的是PHY，针对的是部分电路，而，scan，若只有一种scan_mode，针对的是所有串上scan的电路，针对的是绝大多数字电路，
量级不一样哦~

仿真OK，基本可以说明逻辑没有问题，
那么问题无非就是出在逻辑电路的周边环境，
与之相连的Analog输出，供电等最有可能，
所以想着可以的话，尝试对core电压，稍微提高试一试~
--若可控的话

dzkxybx · 发表于 2016-1-27 12:05:23

回复 8# sukong123

谢谢，可是TE加了电压后，结果还是老样子

forestimber · 发表于 2016-1-27 22:58:19

2楼说的好啊，这种时候一定要做shmoo搜集信息
scan clock使用的pad支持30MHz翻转亦或是这个pad需要配置？
低频能过一般不可能是hold问题，那么setup会出严重问题的话，还是scan clock和scan_en比较可疑。spef抽取的结果也可疑。也许你后仿的反标有假，当时反标的warning也要再看看。
升降温试过吗？

[求助] FT 测试 at-speed scan fail

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