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[求助] 关于ADC的INL和DNL测试

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发表于 2015-6-8 20:57:49 | 显示全部楼层 |阅读模式

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各位大侠,ADC的INL和DNL测试,我给输入加了一个十分缓慢的斜坡信号,从0到Vref,存储了1M数据,包含斜坡信号的多个周期。
分析数据时,我是应该只取一个周期的数据出来,还是用全部数据?
 楼主| 发表于 2015-6-9 20:51:09 | 显示全部楼层
查了使用斜坡信号作为输入信号,计算DNL的算法。

1.移除数据中的0和2^N-1
2.计算count/bin,即每个码字应该出现的次数
3.归一化,将每个码字出现的次数除以其应该出现的次数(count/bin)
4.归一化后的数据减去1,即得到各个码字的DNL

由此可知,使用斜坡信号作为输入信号,测试DNL和INL时,应该选用整数个斜坡信号周期的数据,如此才能够最大限度的确保各个码字出现的概率相等。

不知我的理解是否正确,请各位大侠指教。
发表于 2015-6-9 21:55:48 | 显示全部楼层
一个周期就够了,但你这个周期要取很多个点,即你的
3角波要很缓慢才可以。
发表于 2019-12-2 14:32:15 | 显示全部楼层


ningyuan198 发表于 2015-6-9 20:51
查了使用斜坡信号作为输入信号,计算DNL的算法。

1.移除数据中的0和2^N-1


那我怎么知道每个码出现的次数呢?
发表于 2022-2-10 09:13:57 | 显示全部楼层
比较低的avdd 电源电压下, adc 特性  inl / dnl 变差  
不知跟SAR ADC  cap split  c-dac  "电容"  是否有关系?  
还是sar adc 比较器出问题?  




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